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實現電學測試方法測量暴露冷卻的發光二極管的真實熱阻和阻抗

熱測試過程中規定的有關LED的內容具有通用性,這意味著,只要有可能,穩態和動態(瞬態)熱測量之間沒有做出區分。因此,這個文件屬于JESD51-50到JESD51-53系列標準。JESD51-50文件中對這些標準進行了概述(單芯片和多芯片,單PN結和多PN結發光二極管(LED)的熱測量方法概述 )。該文件還應當與JESD51系列標準結合使用,尤其是JESD51-1(集成電路熱測量方法-電學測試方法 )和有關結到外殼熱阻測量的JESD51-14標準(用于測量熱流量通過單一路徑時半導體器件的結到外殼熱阻的瞬態雙接口測試方法)

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