半導體可靠性測試系統流體溫控環境

半導體可靠性測試系統溫控技術
 
我們擁有專利的流體控溫技術,可為IC半導體行業提供可靠性測試系統以及測試板設計生產服務。
在LED行業,隨著模組功率的增大,傳統熱風對流型的LED可靠性測試系統已經不足以應付測試需求。尤其是在2009年美國能源之星流明維持率測試規范LM80及2011年發布的TM21壽命推估方法發布之后,LM80測試桂芬的測試方法已經廣泛被LED產業認定為LED封裝元件以及模組的壽命測試規范。
壽命測試系統。

單一盤面放10片測試公板

我們可以根據客戶產品具體情況,為客戶設計定制流體溫控型 LM80測試系統以及高功率LED壽命測試系統。我們提供的所有定制的解決方案的兼備測試精度和低測試成本的特點,至今已提供給業內多家客戶量產測試規模的LM80tester以及高功率LED 


 每塊溫控板最大溫控瓦數最大溫控瓦數1500W